18501309179
產(chǎn)品分類
產(chǎn)品型號
BX-Y1250C廠商性質(zhì)
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1320產(chǎn)品描述
800高溫三環(huán)電極表面和體積電阻率測試儀用于描述絕緣材料在高溫變化趨勢下的電性能如電阻，電阻率的變化趨勢，具備高溫氣氛保護(hù)，PC軟件運(yùn)行及數(shù)據(jù)處理.用于對絕緣材料的研究分析；如橡膠，塑料，陶瓷，電化學(xué)材料等.
產(chǎn)品型號
BX-Y1250D廠商性質(zhì)
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1389產(chǎn)品描述
1000高溫三環(huán)電極表面和體積電阻率測試儀用于描述絕緣材料在高溫變化趨勢下的電性能如電阻，電阻率的變化趨勢，具備高溫氣氛保護(hù)，PC軟件運(yùn)行及數(shù)據(jù)處理.用于對絕緣材料的研究分析；如橡膠，塑料，陶瓷，電化學(xué)材料等.
產(chǎn)品型號
BX-Y1250F廠商性質(zhì)
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1849產(chǎn)品描述
1200高溫三環(huán)電極表面和體積電阻率測試儀用于描述絕緣材料在高溫變化趨勢下的電性能如電阻，電阻率的變化趨勢，具備高溫氣氛保護(hù)，PC軟件運(yùn)行及數(shù)據(jù)處理.用于對絕緣材料的研究分析；如橡膠，塑料，陶瓷，電化學(xué)材料等.
產(chǎn)品型號
BX-Y1247G廠商性質(zhì)
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2033產(chǎn)品描述
1600高溫四探針雙電組合電阻率測試儀用于：企業(yè)、高等院校、科研部門對導(dǎo)電陶瓷、硅、鍺單晶（棒料、晶片）電阻率、測定硅外延層、擴(kuò)散層和離子注入層的方塊電阻以及測量導(dǎo)電玻璃（ITO）和其它導(dǎo)電薄膜等新材料方塊電阻、電阻率和電導(dǎo)率數(shù)據(jù). 雙電測四探針儀是運(yùn)用直線四探針雙位測量。設(shè)計(jì)參照單晶硅物理測試方法并參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。
產(chǎn)品型號
BX-Y1248廠商性質(zhì)
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1686產(chǎn)品描述
200導(dǎo)體材料四端測量高溫電阻率測試儀用于：企業(yè)、高等院校、科研部門對導(dǎo)體材料電阻、電阻率和電導(dǎo)率數(shù)據(jù)測量需求.常用于金屬類導(dǎo)體材料及非金屬類導(dǎo)體材料測量.
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